采用平場消色差光學系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時在落射照明系統(tǒng)中設計防反射結構，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更好。

提供穩(wěn)定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。

顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現(xiàn)鏡體擴展積木化。

工作臺、光強與粗微調(diào)的低位操作，提高了使用的舒適性。

廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學科領域。

軟件功能：

• 內(nèi)置全新V3.0版測量系統(tǒng)，新增:自定義界面編輯、自定義模板編輯、Dxf導入模板、文件管理、測量數(shù)據(jù)導出等功能，操作更智能、更快捷、更強大； 

• 全新系統(tǒng)再次提高圖像清晰度；

•  采用SONY高靈敏度、低噪聲SENSOR，性能強大，預覽流暢； 

• 采用ARM Cortex A7雙核@Max1.3GHz處理器，工作流暢穩(wěn)定； 

• 內(nèi)置錄像、拍圖功能可回顯播放； 

• 內(nèi)置自動尋邊功能，提升測量效果； 

• 支持U盤存儲功能，可外接鼠標；