半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀：,四探針測(cè)試儀,電阻率測(cè)試儀,導(dǎo)電類型鑒定儀,電阻測(cè)試儀：,數(shù)字式毫歐計(jì),數(shù)字式微歐計(jì),交直流電壓表：,低…
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產(chǎn)品品牌JG晶格
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更新日期2021-12-28 00:02
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品牌： |
JG晶格 |
所在地： |
江蘇 蘇州市 |
起訂： |
≥1 套 |
供貨總量： |
9999 套 |
有效期至： |
長(zhǎng)期有效 |
測(cè)量范圍： |
電阻率：1×10-4～2×10^5 Ω-cm |
類型： |
表面電阻測(cè)試儀 |
| 測(cè)量范圍 | 電阻率：1×10-4～2×10^5 Ω-cm |
|---|---|
| 類型 | 表面電阻測(cè)試儀 |
| 品牌 | JG/晶格 |
| 型號(hào) | A113 |
| 加工定制 | 是 |
————石墨烯薄膜測(cè)試儀器方案推薦———
※樣品特性：
基材表面厚度極薄的薄膜，附著力差，易損傷，樣品普遍面積不大。
※測(cè)試難點(diǎn)：
蘇州晶格薄膜專用測(cè)試探頭自帶彈簧收縮功能，很好的解決了石墨烯薄膜的測(cè)試弱點(diǎn)，自主研發(fā)的高精度四探針測(cè)試儀和專用型測(cè)試臺(tái)搭配，讓樣品測(cè)試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定，重復(fù)性更好。
※方案要點(diǎn)：
測(cè)試探頭，首先優(yōu)選是導(dǎo)電橡膠探針的四探針法。其次是普通薄膜測(cè)試探針的四探針法。
測(cè)試儀優(yōu)選低壓小電流測(cè)試，需要有開路電壓限壓保護(hù)的功能。
整套晶格石墨烯薄膜方阻測(cè)試儀器包括：探頭、測(cè)試臺(tái)、測(cè)試儀。
詳情請(qǐng)撥打400-635-7098或在線咨詢客服。
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